取样电阻是半导体测试中常用的一种被测器件。所谓电阻，指的是物质对电流流动的阻碍作用。取样电阻则是指取出被测器件的一部分，将之拉出一个外部的引线连接到测试仪表上进行测试。这种方法与直接用针形探针尖测连线法相比，有着较强的可靠性和良好的可重复性。
在半导体测试中，取样电阻常用于测量器件电阻值、温度系数、线性性以及晶体管等特殊器件的放大倍数等指标。在测试中，为了减小测量误差，取样电阻的值一般应远小于被测器件电阻值。
除此之外，取样电阻还常常被应用在半导体器件的可靠性测试中。通过研究器件的变化规律，可以推测出其使用寿命和可靠性，从而保证产品的性能和品质。